用于高NA显微镜成像的工程化PSF

讯技光电科技

显微成像技术在最近的几十年中得到迅速发展。 PSF（点扩散函数）通常不是像平面上的艾里斑。当对沿纵轴定向的偶极子源进行成像时，可以设计出一个甜甜圈形状。 我们在VirtualLab Fusion中证明，当偶极子源的方向发生变化时，会获得不同的非对称PSF（不是艾里斑）。 此外，可通过在显微镜系统的光瞳平面中插入一定的相位掩模来获得双螺旋PSF [Ginni Grover et al., Opt. Exp. 2012]。通过这种工程化的PSF，甚至可以观察到物体的微小散焦，即与传统的成像方法相比，可以大大提高轴向分辨率。 我们通过在VirtualLab Fusion中应用商业显微镜镜头（Nikon）系统来演示此现象。

使用高NA显微镜系统分析偶极子源的PSF

在VirtualLab Fusion中，可以直接分析偶极子源的PSF。 该实验证明了当偶极子源的方向改变时，PSF具有不同的形状。

用于3D成像显微镜的双螺旋PSF

在VirtualLab Fusion中，通过在高NA显微镜系统的光瞳平面中插入相位掩模，以简单快捷的方式分析双螺旋PSF。 结果表明，即使只有一点散焦（〜130 nm）的物点，双螺旋PSF也会有旋转。